傳動(dong)齒輪(lun)超聲(sheng)波(bo)自動(dong)探傷設備介紹-山(shan)科飛泰

傳(chuan)動(dong)(dong)齒輪超(chao)聲波自動(dong)(dong)探(tan)傷(shang)(shang)設(she)備由計算(suan)機(ji)、數字化超(chao)聲波探(tan)傷(shang)(shang)儀、探(tan)頭組、探(tan)頭驅動(dong)(dong)機(ji)構、耦合劑供給裝置、輪對轉動(dong)(dong)機(ji)構、配(pei)電(dian)系統、打(da)(da)標(biao)系統、顯示(shi)(shi)器(qi)、打(da)(da)印(yin)機(ji)等(deng)組成。設(she)備以探(tan)傷(shang)(shang)工藝與(yu)數據(ju)采集(ji)、處理為(wei)核心(xin)，以機(ji)械與(yu)電(dian)器(qi)控制等(deng)為(wei)輔(fu)助設(she)備，通(tong)過計算(suan)機(ji)操作平臺完(wan)成超(chao)聲信號的發射(she)、接收(shou)，數據(ju)處理，判傷(shang)(shang)，圖象顯示(shi)(shi)與(yu)探(tan)傷(shang)(shang)報告打(da)(da)印(yin)等(deng)。

在(zai)超(chao)聲(sheng)探傷參數(shu)中，使用探頭的(de)(de)(de)頻率為2.5MHz，超(chao)聲(sheng)信號(hao)轉換頻率為80MHz，理論上(shang)可以(yi)達到的(de)(de)(de)檢(jian)測精度為0.04mm。由于齒輪表面狀(zhuang)況的(de)(de)(de)影響，實(shi)測的(de)(de)(de)精度為0.1mm。在(zai)實(shi)時超(chao)聲(sheng)中，利用PCI 超(chao)聲(sheng)波界面卡高速數(shu)據傳(chuan)輸和直接數(shu)據讀(du)取功能，實(shi)現高速檢(jian)測。

檢測軟件是基于Windows 操作系統下(xia)的應用(yong)(yong)程(cheng)序(xu)，采用(yong)(yong)VC++語言編(bian)程(cheng)。

計算機接收(shou)到的(de)數據(ju)為(wei)8個(ge)(ge)(ge)A掃(sao)(sao)描(miao)波(bo)(bo)形或B掃(sao)(sao)描(miao)圖(tu)象。A掃(sao)(sao)描(miao)界(jie)(jie)面(mian)(mian)上(shang)左側(ce)4個(ge)(ge)(ge)通(tong)道(dao)(dao)為(wei)橫波(bo)(bo)檢(jian)測，右側(ce)4個(ge)(ge)(ge)通(tong)道(dao)(dao)為(wei)表面(mian)(mian)波(bo)(bo)檢(jian)測。B掃(sao)(sao)描(miao)圖(tu)象界(jie)(jie)面(mian)(mian)8個(ge)(ge)(ge)通(tong)道(dao)(dao)從上(shang)到下為(wei)交替顯(xian)示(shi)的(de)橫波(bo)(bo)表面(mian)(mian)波(bo)(bo)。成像(xiang)程序根據(ju)每個(ge)(ge)(ge)檢(jian)測面(mian)(mian)以不同(tong)通(tong)道(dao)(dao)顯(xian)示(shi)在對應的(de)位置(zhi)上(shang)。相(xiang)應的(de)圖(tu)像(xiang)數據(ju)保存在一個(ge)(ge)(ge)二維的(de)數組(zu)中，可以用于回放、分析和永久保存。在掃(sao)(sao)描(miao)結束(shu)后，應用程序自(zi)動對圖(tu)像(xiang)進行分析，并給出齒(chi)輪缺陷的(de)分布數據(ju)。

超聲波探傷原理

采用橫(heng)波(bo)(bo)和表(biao)面(mian)(mian)(mian)波(bo)(bo)聯合(he)探(tan)傷法。齒(chi)(chi)輪(lun)每(mei)個側面(mian)(mian)(mian)分別(bie)有(you)1個橫(heng)波(bo)(bo)探(tan)頭(tou)(tou)和表(biao)面(mian)(mian)(mian)波(bo)(bo)探(tan)頭(tou)(tou)，2個探(tan)頭(tou)(tou)相對(dui)成180°。橫(heng)波(bo)(bo)探(tan)頭(tou)(tou)探(tan)測對(dui)面(mian)(mian)(mian)齒(chi)(chi)根和內部缺(que)陷，表(biao)面(mian)(mian)(mian)波(bo)(bo)探(tan)頭(tou)(tou)探(tan)測同側表(biao)面(mian)(mian)(mian)裂紋，保(bao)證不同位置(zhi)、方(fang)向(xiang)缺(que)陷檢測的準(zhun)確性(xing)，可以防(fang)止漏檢，增加可靠性(xing)。同時為(wei)減(jian)少齒(chi)(chi)輪(lun)的雜亂反射(she)，探(tan)頭(tou)(tou)采用雙晶片(pian)線聚(ju)焦探(tan)頭(tou)(tou)。

探傷缺陷判斷與計算

從原始數據中分析(xi)出缺陷(xian)深度和大小是一(yi)個很重要的工作(zuo)，但同時(shi)也很困難，因為不確定因素太多(duo)。可以用(yong)一(yi)些(xie)簡(jian)單的辦法進(jin)行判(pan)(pan)斷(duan)，比如(ru)可以將橫(heng)波探(tan)頭(tou)探(tan)測到的裂紋回(hui)(hui)波與(yu)齒根回(hui)(hui)波在時(shi)間上進(jin)行比較，判(pan)(pan)斷(duan)深度，用(yong)回(hui)(hui)波強度與(yu)齒根回(hui)(hui)波強度比較，近似判(pan)(pan)斷(duan)大小。