超聲波探(tan)傷成象(xiang)技術說(shuo)明-飛泰(tai)

超聲波探傷通常以A型、B型、C型三種方法顯示。近年來，隨著電子技術，特別是微型電子計算機的發展，幾種新型顯示方法相繼研究成功。

目前工業超聲波探(tan)傷，廣(guang)泛(fan)采用A型顯示法(fa)。此(ci)方(fang)法(fa)使用簡便，應用范圍廣(guang)，并能對缺(que)陷(xian)定位。缺(que)陷(xian)的尺寸則是(shi)以當(dang)量平底孔的大小來評定的。缺(que)點是(shi)難以判(pan)斷缺(que)陷(xian)的性質、形狀和分布。因此(ci)，最好(hao)能結合B型、C型顯示法(fa)以助判(pan)斷。

當用發(fa)射(she)(she)一接收型單探(tan)(tan)頭(tou)(tou)探(tan)(tan)傷時(shi)，探(tan)(tan)頭(tou)(tou)受電脈沖激勵(li)發(fa)出超(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)，回(hui)(hui)波(bo)(bo)(bo)(bo)信(xin)號經過高頻放大(da)、檢波(bo)(bo)(bo)(bo)、視頻放大(da)后(hou)輸(shu)向示(shi)(shi)波(bo)(bo)(bo)(bo)管。設探(tan)(tan)頭(tou)(tou)處(chu)于試(shi)樣(yang)上(shang)(shang)(shang)(shang)方(fang)在C點入射(she)(she)，則一部份(fen)(fen)超(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)從(cong)上(shang)(shang)(shang)(shang)表(biao)面(mian)反(fan)射(she)(she)回(hui)(hui)來(lai)，稱(cheng)為(wei)(wei)界面(mian)波(bo)(bo)(bo)(bo);穿(chuan)透的(de)(de)(de)超(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)在缺(que)(que)陷(xian)處(chu)反(fan)射(she)(she)回(hui)(hui)來(lai)，稱(cheng)為(wei)(wei)缺(que)(que)陷(xian)波(bo)(bo)(bo)(bo);其余部份(fen)(fen)從(cong)底面(mian)反(fan)射(she)(she)回(hui)(hui)來(lai)，稱(cheng)為(wei)(wei)底波(bo)(bo)(bo)(bo)。當然也有部份(fen)(fen)超(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)穿(chuan)過試(shi)樣(yang)。常(chang)用的(de)(de)(de)三(san)個反(fan)射(she)(she)信(xin)號表(biao)示(shi)(shi)在右邊(bian)(bian)的(de)(de)(de)熒光屏上(shang)(shang)(shang)(shang)，根據缺(que)(que)陷(xian)波(bo)(bo)(bo)(bo)在界面(mian)波(bo)(bo)(bo)(bo)和(he)底波(bo)(bo)(bo)(bo)之(zhi)間(jian)(jian)的(de)(de)(de)相對位置(zhi)(zhi)，可以計算缺(que)(que)陷(xian)F在試(shi)樣(yang)中的(de)(de)(de)位置(zhi)(zhi)。由缺(que)(que)陷(xian)回(hui)(hui)波(bo)(bo)(bo)(bo)的(de)(de)(de)高低可以評定它的(de)(de)(de)大(da)小，這就(jiu)是(shi)A型顯(xian)示(shi)(shi):如果探(tan)(tan)頭(tou)(tou)沿AB作(zuo)直線掃描，則可將(jiang)超(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)傳(chuan)播時(shi)間(jian)(jian)和(he)回(hui)(hui)波(bo)(bo)(bo)(bo)位置(zhi)(zhi)之(zhi)間(jian)(jian)的(de)(de)(de)關(guan)系顯(xian)示(shi)(shi)在左邊(bian)(bian)的(de)(de)(de)存(cun)儲示(shi)(shi)波(bo)(bo)(bo)(bo)器(qi)熒光屏上(shang)(shang)(shang)(shang)，它相當于試(shi)樣(yang)在AB位置(zhi)(zhi)的(de)(de)(de)截面(mian)圖，表(biao)示(shi)(shi)缺(que)(que)陷(xian)F距上(shang)(shang)(shang)(shang)下表(biao)面(mian)的(de)(de)(de)位置(zhi)(zhi)分布(bu)，這就(jiu)是(shi)B型顯(xian)示(shi)(shi)，把探(tan)(tan)頭(tou)(tou)的(de)(de)(de)這種動(dong)作(zuo)方(fang)式(shi)稱(cheng)為(wei)(wei)B掃描。當探(tan)(tan)頭(tou)(tou)在試(shi)樣(yang)上(shang)(shang)(shang)(shang)方(fang)沿XY坐(zuo)標(biao)逐點掃描，調(diao)節(jie)門(men)電路，只選取(qu)上(shang)(shang)(shang)(shang)下表(biao)面(mian)之(zhi)間(jian)(jian)的(de)(de)(de)反(fan)射(she)(she)信(xin)號顯(xian)示(shi)(shi)在下邊(bian)(bian)的(de)(de)(de)存(cun)儲示(shi)(shi)波(bo)(bo)(bo)(bo)器(qi)熒光屏上(shang)(shang)(shang)(shang)，它表(biao)示(shi)(shi)在試(shi)樣(yang)內部，所(suo)調(diao)節(jie)的(de)(de)(de)門(men)限范圍內的(de)(de)(de)缺(que)(que)陷(xian)在XY平(ping)面(mian)上(shang)(shang)(shang)(shang)的(de)(de)(de)投影，這就(jiu)是(shi)C顯(xian)示(shi)(shi)，把探(tan)(tan)頭(tou)(tou)的(de)(de)(de)這種動(dong)作(zuo)方(fang)式(shi)稱(cheng)為(wei)(wei)C掃描。

對于(yu)不需要知道缺陷深度分布的(de)(de)(de)試樣，C型顯(xian)示可(ke)(ke)以直接表示缺陷的(de)(de)(de)平面形(xing)狀。所以可(ke)(ke)具(ju)有較(jiao)好(hao)的(de)(de)(de)使(shi)用價值;如航(hang)空工業(ye)中的(de)(de)(de)鍛件(jian)、盤、蜂窩結構、膠(jiao)合件(jian)及(ji)復合材料等，均可(ke)(ke)采(cai)用此種顯(xian)示方式進行檢(jian)查。